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發揮高效能、環保的照明效益散熱設計是一大關鍵航空障礙燈LED元件的核心設計，即是由一片LED晶粒利用加諸電壓使其產生發光結果，而與一般矽晶片類似，LED晶片也會因為長時間使用而產生光衰現象，嘲多數設計方案為了提升元件發光亮度，多利用增加晶體的偏壓，即提升加諸于LED的電能功率，讓晶片能夠激發出更高的亮度，如此一來，加強航空障礙燈LED功率也會使得晶體的光衰問題、壽命問題加速出現，甚至元件本身因強化亮度而產生的高溫，也會造成產品壽命的縮短。當單顆LED晶粒隨著亮度提升，單顆LED功耗瓦數也會由0．1W提高至1、3、甚至5W以上，而多數的LED光源模組實測分析，也會出現封裝模組的熱阻抗因增加發光效能而提升，一般會由250K／W至350K／W上下持續增加幅度。而檢視測試結果會發現，航空障礙燈LED也會有隨著“功率”增加、“使用壽命”減少的現象，讓原本可能具有20，000小時使用壽命的航空障礙燈LED光源元件，因為散熱影響，而降低到僅剩1,000小時的使用壽命。當元件在攝氏50度的運作溫度下，均能維持最佳的20，000小時壽命，但當LED元件運行于攝氏70度的環境，平均壽命則降至10，000小時，若持續在攝氏100度環境下運行，壽命會僅剩5,000小時。市場上的LED光源良秀不齊，許多公司宣稱其半導體光源連續使用壽命為l0萬小時，但產品實際可用壽命許多不到5000小時，最短的不到100小時，伽整個LED產業在市場上的信譽受對極大的影響。另一方面，半導體光源的用戶無法選購到可靠的產品，缺少對LED產品的質量可靠性及穩定性的有效檢測手段，直到客戶遭受巨額損失，使用失敗后退貨。業界要為產業的進一步高速發展奠定基礎，必須有一個相對統一的產品質量與可靠性的測試及規范標準。國際上CIE等相關機構鑒于LED產業的迅猛發展，還未能制定一個統一的規范，多由各公司自行測試和規定，主要包括高溫，常溫，低溫老化實驗，高溫高濕老化實驗，冷熱沖擊實驗，機械撞擊，靜電放電實驗，震動實驗，焊接實驗，鹽舞實驗等若干項。國內LED光源用戶一般也是用該室溫老化實驗來驗證供應商的產品質量和可靠性，好的公司則有做1000小時室溫老化實驗。由于航空障礙燈LED光源的使用壽命要求是1萬至l0萬小時(約1年至11年)，用戶很難有時間用常溫老化法求證。LED光源的壽命高溫下會大大縮短，航空障礙燈LED光源的壽命t和溫度呈指數關系，t=t0exp(-DE／kT)因此高溫加速老化實驗是更快速嚴格的可靠性測試方法。85度下LED光源壽命比常溫將會縮短約20倍。國內許多廠家的劣質產品則在24至100小時內迅速老化，該實驗成為檢驗產品質量的一個快速試金石。功率型航空障礙燈LED會受熱量影響：(1)熱量集中于尺寸很小的芯片里，芯片的發光效率因結區溫度升高而降低，芯片周圍熒光粉的激射效率的降低，使器件的光學性能受到嚴重影響，且器件的穩定性和壽命也容易受熱應力的非均勻分布而降低；f2)白光照明系統中多個LED是密集排列的，高熱阻會因模塊問相互影響導致器件失效。從而，功率型航空障礙燈LED的散熱成為重要研究課題。
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